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                                  產(chǎn)品型號:OPTELICS HYBRID+  
                                                      產(chǎn)品代碼: 
                                                      產(chǎn)品價格:0  
                                                                        計量單位:臺 
                                                      折 扣 率: 0 
                                    
                  最后更新:2022-03-04  
                  關(guān) 注 度:3126  
				  生產(chǎn)企業(yè):北京歐屹科技有限公司
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              產(chǎn)品詳細(xì)介紹白光共聚焦顯微鏡OPTELICS HYBRID+ 日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ),搭載微分干涉觀察,垂直白光干涉測定,相差干涉測定,反射分光膜厚測定等功能,通常多臺設(shè)備才能完成的測試,僅需一臺設(shè)備即可實現(xiàn)。
     關(guān)鍵詞:激光共聚焦顯微鏡,白光共聚焦顯微鏡,lasertec共聚焦顯微鏡
 
 
  OPTELICS HYBRID+ 簡介:
 
 
  日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學(xué)器件與附加器件相結(jié)合,包括干涉儀,微分干涉對比觀察和光譜反射膜厚度測量儀。
 
 
               集6項功能于一體
   
  應(yīng)用:各種材料的觀察和形狀測量可以進(jìn)行毫米級到納米級的非接觸、
  非破壞性形狀測量和觀察。它可以處理廣泛的工業(yè)領(lǐng)域中的各種樣品。
  工業(yè)領(lǐng)域:
  半導(dǎo)體材料(Si、Sic、抗蝕劑)、器件、電子元件
  MEMS、微制造零件、涂層材料
  薄膜、有機(jī)/無機(jī)材料、光學(xué)元件、薄膜
  生物領(lǐng)域:
  微流道
  導(dǎo)管、劃痕等異物
  可用于從研發(fā)領(lǐng)域接近量產(chǎn)的領(lǐng)域。
 
 
   
 
 
  功能介紹:
   白光共聚焦功能
 
 
 
 
                                                  寬視野觀察提高效率
 
 
       
 
 
                                采用白光光源可以獲取高清全彩圖像,有助于觀察。
 
  激光共聚焦功
  高倍率和高分辨觀察
  配備波長405nm的半導(dǎo)體激光器、無需預(yù)處理即可清晰采集納米級超精細(xì)結(jié)構(gòu),分辨率堪比電子顯微鏡。
 
 
 
 
 
                                                                 鈮酸鋰 倍率:11000倍    半導(dǎo)體部件 倍率:3700倍
 
                                                         微分干涉功能
  納米級凹凸觀察
      共聚焦和微分干涉對比(DIC)的組合提供了樣品細(xì)微缺陷的清晰化觀察,可不受背面影響的情況下觀察透明樣品的正面
 
 
 
                                       共聚焦觀察       共聚焦微分干涉觀察
 
 
  垂直掃描白光干涉功能
  毫米視野下的納米級臺階高度測量
      高度分布數(shù)據(jù)是通過獲取白光和雙光干涉物鏡在光軸方向掃描時產(chǎn)生的干涉條紋強(qiáng)度峰值處的z-scale值來計算的。該方法適用于寬視場測量,因為理論上在任何放大倍數(shù)的物鏡下都具有相同的高度測量分辨率。
 
 
 
                 1.5mm視野下44nm的測量                            數(shù)um高度下10nm-100nm高度測量
 
  相移干涉測量功能
  埃米級臺階高度測量
      由于單波長光和兩光束干涉物鏡產(chǎn)生的干涉條紋是基于樣品表面的光程差分布,因此通過相位信息分析使用四個 相對于光軸不同位置的干涉條紋圖像來計算高度分布數(shù)據(jù)。
 
 
 
  反射光膜厚測量功能
  納米級透明膜厚測量
  使用波長選擇功能測量6個波長的絕對反射率,使用光學(xué)模型擬合計算膜厚。可以測量幾納米到1微米的單層/多層膜厚。由于測量區(qū)域是根據(jù)共焦觀察圖像指定的,因此可以計算亞微米微小區(qū)域到幾毫米整個視場的平均膜厚。此外,由于可以測量每個像素的膜厚,因此可以測量膜厚分布。
 
 
 
  規(guī)格參數(shù):   | 
         
       
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                | 會員級別:免費(fèi)會員  | 
               
               
                | 加入時間:2017-04-26 
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